JTAG：闪存内部与外部的链接方式

● JTAG接口：闪存与I/O系统的链接

    有了控制调配芯片，闪存与I/O系统之间高速链接的硬件条件就有了，下面要解决的就是互联的通道了，如何创建一个高速链接的通道成为了一个最大的挑战，这里便涉及到了一个国际标准——JTAG协议。

    JTAG（Joint Test Action Group，联合测试行动小组）是一种国际标准测试协议（IEEE 1149.1兼容），主要用于芯片内部测试。现在多数的高级器件都支持JTAG协议，如DSP、FPGA器件等，而Robson模组也不例外。本章节我们将详细介绍JTAG协议，来看看它是如何帮助芯片传输的。

原理：写入方式

    通常所说的JTAG大致分两类：一类用于测试芯片的电气特性，检测芯片是否有问题；另一类便是用于Debug；一般支持JTAG的主控芯片内部都包含了这两个模块。直白的说，一个具有JTAG Debug接口模块的控制芯片，只要时钟正常，就可以通过JTAG的接口访问芯片内部寄存器与连接于该主控芯片上的设备，比如迅盘模块上连接于Diamond Lake ASIC的NAND闪存。其原理是：在PCB电路设计好后，即可用程序先通过JTAG进行指令控制，通过TDI送入JTAG控制器的指令寄存器中，再通过TDI将要写入闪存芯片的地址、数据及控制线信号载入BSR中，并将数据锁存到BSC中，最后用EXTEST指令通过BSC将数据写入闪存。 如图：

针脚定义

    标准的JTAG接口是4线：TMS、TCK、TDI、TDO，分别为模式选择、时钟、数据输入和数据输出线。JTAG的接口是一种非常特殊的4线接口，在电路版上的芯片可以将它们的JTAG接脚通过菊花链的方式连在一起，然后，只需连接到一个“JTAG端口”就可以访问一块电路板上的所有芯片，节省了针脚所占用的空间，由于所有芯片都用一个针脚传输，所以加快了传输的速度。

    早期的JTAG是用来对芯片进行测试的，基本原理是在器件内部定义一个TAP（Test Access Port，测试访问口）通过专用的JTAG测试工具对进行内部节点进行测试。刚才我们也提到过，JTAG测试允许多个器件通过JTAG接口串联在一起，形成一个JTAG链，能实现对各个器件分别测试。然而现在，JTAG接口大多被用于实现ISP（In-System rogrammable，在线编程），对Flash等器件进行编程。

快速在线编程

    对闪存的在线编程有什么好处呢？首先，传统生产流程中先对芯片进行预编程，然后再装到PCB板；而JTAG则不同，其流程为，先将芯片焊接到PCB上，再通过JTAG接口进行编程，从而大大的加快了进度。由于，JTAG接口可对芯片内部的所有部件进行编程，所以日后方便对迅盘模块进行修改。

    迅盘技术的内部构造解析至此就告一段落，下面我们会通过10余项专业测试来说明迅盘的性能是否能够给整体系统带来提升，马上进入测试环节。